PRL: ученые нашли способ обнаружить скрытый магнетизм альтермагнетиков

Японские исследователи предложили инновационный метод определения скрытой магнитной структуры алтермагнетиков, представляющих собой перспективные антиферромагнитные материалы, обладающие значительным потенциалом для разработки более энергоэффективных электронных устройств.

Профессор Петер Крюгер из Университета Тиба внедрил метод резонансной дифракции фотоэлектронов в сочетании с циркулярно поляризованным светом для изучения теллурида марганца (MnTe). Эта методология позволяет выявлять алтермагнетизм даже в ультратонких пленках, где традиционные методы, такие как нейтронное рассеяние, оказываются неэффективными.

В отличие от традиционных антиферромагнетиков, где магнитные моменты атомов полностью компенсируют друг друга, в алтермагнетиках наблюдается частичная компенсация. Это явление приводит к возникновению уникальных спиново-поляризованных электронных токов, не сопровождающихся общим намагничиванием, что открывает новые горизонты для исследований в области спинтроники.

Разработанная техника, известная как CD-RPED (циркулярно-поляризованная резонансная дифракция фотоэлектронов), регистрирует специфические сигналы магнитного кругового дихроизма, претерпевающие изменения при модификации поляризации света. Данный подход позволяет с высокой точностью определять намагниченность каждой атомной подрешетки.

Эффективность новой методики была успешно верифицирована на примере теллурида марганца (MnTe), продемонстрировав свою значительную практическую ценность. В результате исследователи получили возможность точной идентификации алтермагнетиков в ультратонких пленках и на поверхностях, что значительно ускорит процесс поиска новых материалов для применения в спинтронике.